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GB2423.37沙塵試驗(yàn)箱方法

GB2423.37內(nèi)容與適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L;砂塵試驗(yàn)方法。

本標(biāo)準(zhǔn)提供了三種砂塵試驗(yàn)方法，適用于在砂塵環(huán)境中使用的電工電子產(chǎn)品。砂塵對(duì)產(chǎn)品的主要影響如下: a.侵入密封件和外殼;

b.改變電氣性能(如接觸電阻和表面泄漏電流改變等); c軸承等運(yùn)動(dòng)部件; d.磨蝕表面，污染潤滑劑;

e阻塞通風(fēng)口、管路、過濾器、操作孔等;

f.積塵可以成為水汽凝聚的核心,促進(jìn)腐蝕和霉菌生長。

2方法La:外殼防塵

用于檢測(cè)產(chǎn)品的外殼密封性能的試驗(yàn)方法，主要用于GB4208-84《外殼防護(hù)等級(jí)的分類》中規(guī)的IP5X和IP6X兩個(gè)等級(jí)的產(chǎn)品。21對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求

a.試驗(yàn)時(shí)應(yīng)能提供非層流狀的載灰塵的垂直循環(huán)氣流; b.試驗(yàn)時(shí)應(yīng)具有循環(huán)使用灰塵的功能; c驗(yàn)時(shí)應(yīng)具有良好的密封性;

d.試驗(yàn)時(shí)應(yīng)能觀察灰塵的循環(huán)狀況; e.內(nèi)壁應(yīng)平滑 防靜電;

f.空并滿本準(zhǔn)25條的要求。

2.2 試驗(yàn)條件22.1 試驗(yàn)用塵

能通過篩孔為75pm、金屬絲直徑為50μm的方孔篩的干燥滑石粉。

2.2.2 灰塵濃度

試驗(yàn)箱(室)內(nèi)(工作室和管通道)灰塵量為2kg/m3

2.2.3 氣流速度

應(yīng)能保證試驗(yàn)用灰塵均勻緩慢沉降在試驗(yàn)樣品上，但最大值不得超過2m/s

2.2.4 溫度和相對(duì)濕度

試驗(yàn)過程中，試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度:15~35℃;相對(duì)濕度:45%~75%。

2.2.5試驗(yàn)樣品的殼內(nèi)壓力

A類外殼--設(shè)備正常工作時(shí)殼內(nèi)的氣壓低于周圍大氣壓力。 B類外殼-殼內(nèi)壓力等于周圍大氣壓力。

對(duì)于A類外殼，試驗(yàn)時(shí)將真空泵與試驗(yàn)樣品相連接，保持殼內(nèi)壓力低于大氣壓力，其壓差值不超過

1.98kPa。當(dāng)試驗(yàn)樣品無孔時(shí)，是否開一連接孔由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)決定;有多個(gè)孔時(shí)，除與真空泵相連接的孔外，其余孔試驗(yàn)時(shí)應(yīng)封閉。

對(duì)于B類外殼，試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)樣品按正常工作位置放入試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，不與真空泵連接。在正常情況下開啟的孔，在試驗(yàn)期間必須保持開啟。

2.2.6持續(xù)時(shí)間

試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間,對(duì)于A類外殼，當(dāng)抽氣速度為每小時(shí)抽40~60倍的殼內(nèi)容積氣體時(shí)，為2h;當(dāng)抽氣速度為每小時(shí)抽氣少于40倍殼內(nèi)容積氣體時(shí)，則應(yīng)連續(xù)抽足80倍體積，若抽不足80倍體積則應(yīng)抽至8h為止。

對(duì)于B類外殼，持續(xù)時(shí)間為8h。